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期刊名字 | IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY IEEE T RELIAB (此期刊被最新的JCR期刊SCIE收录) LetPub评分 7.1
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声誉 7.7 影响力 6.5 速度 7.2 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
期刊ISSN | 0018-9529 | 微信扫码收藏此期刊 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
E-ISSN | 1558-1721 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
2023-2024最新影响因子 (数据来源于搜索引擎) | 5 点击查看影响因子趋势图 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
实时影响因子 | 截止2024年3月26日:4.885 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
2023-2024自引率 | 8.00%点击查看自引率趋势图 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
五年影响因子 | 5.2 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
JCI期刊引文指标 | 1.55 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
h-index | 86 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
CiteScore ( 2024年最新版) |
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期刊简介 |
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期刊官方网站 | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=24 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
期刊投稿网址 | https://mc.manuscriptcentral.com/tr-ieee | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
期刊语言要求 | 经LetPub语言功底雄厚的美籍native English speaker精心编辑的稿件,不仅能满足IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY的语言要求,还能让IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY编辑和审稿人得到更好的审稿体验,让稿件最大限度地被IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY编辑和审稿人充分理解和公正评估。LetPub的专业SCI论文编辑服务(包括SCI论文英语润色,同行资深专家修改润色,SCI论文专业翻译,SCI论文格式排版,专业学术制图等)帮助作者准备稿件,已助力全球15万+作者顺利发表论文。部分发表范例可查看:服务好评 论文致谢 。
提交文稿 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
是否OA开放访问 | No | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
通讯方式 | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
出版商 | Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
涉及的研究方向 | 工程技术-工程:电子与电气 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
出版国家或地区 | UNITED STATES | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
出版语言 | English | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
出版周期 | Quarterly | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
出版年份 | 0 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
年文章数 | 132点击查看年文章数趋势图 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Gold OA文章占比 | 16.74% | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
研究类文章占比: 文章 ÷(文章 + 综述) | 98.48% | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
WOS期刊SCI分区 ( 2023-2024年最新版) | WOS分区等级:1区
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中国科学院《国际期刊预警 名单(试行)》名单 | 2024年02月发布的2024版:不在预警名单中 2023年01月发布的2023版:不在预警名单中 2021年12月发布的2021版:不在预警名单中 2020年12月发布的2020版:不在预警名单中 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
中国科学院SCI期刊分区 ( 2023年12月最新升级版) | 点击查看中国科学院SCI期刊分区趋势图
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中国科学院SCI期刊分区 ( 2022年12月升级版) |
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中国科学院SCI期刊分区 ( 2021年12月旧的升级版) |
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SCI期刊收录coverage | Science Citation Index Expanded (SCIE) (2020年1月,原SCI撤销合并入SCIE,统称SCIE) Scopus (CiteScore) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
PubMed Central (PMC)链接 | http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0018-9529%5BISSN%5D | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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期刊常用信息链接 |
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中国学者近期发表的论文 | |
1. | Novel Discriminant Locality Preserving Projection Integrated With Monte Carlo Sampling for Fault Diagnosis Author: He, Yan-Lin; Li, Kun; Liang, Li-Long; Xu, Yuan; Zhu, Qun-Xiong Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 166-176. DOI: 10.1109/TR.2021.3115108 DOI |
2. | Fault Diagnosability of Networks With Fault-Free Block at Local Vertex Under MM* Model Author: Huang, Yanze; Lin, Limei; Lin, Yuhang; Xu, Li; Hsieh, Sun-Yuan Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 372-383. DOI: 10.1109/TR.2021.3129257 DOI |
3. | Improved Locality Preserving Projections Based on Heat-Kernel and Cosine Weights for Fault Classification in Complex Industrial Processes Author: Zhang, Ning; Xu, Yuan; Zhu, Qun-Xiong; He, Yan-Lin Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 204-213. DOI: 10.1109/TR.2021.3139539 DOI |
4. | Resilience Enhancement for Multistate Interdependent Infrastructure Networks: From a Preparedness Perspective Author: Wang, Kai; Xu, Zhaoping; Liu, Yu; Fang, Yiping Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 190-203. DOI: 10.1109/TR.2021.3132774 DOI |
5. | SeTransformer: A Transformer-Based Code Semantic Parser for Code Comment Generation Author: Li, Zheng; Wu, Yonghao; Peng, Bin; Chen, Xiang; Sun, Zeyu; Liu, Yong; Paul, Doyle Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 258-273. DOI: 10.1109/TR.2022.3154773 DOI |
6. | Reliability of a Distributed Data Storage System Considering the External Impacts Author: Kou, Gang; Yi, Kunxiang; Xiao, Hui; Peng, Rui Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 3-14. DOI: 10.1109/TR.2022.3161638 DOI |
7. | Reliability Modeling and Assessment for a Cyber-Physical System With a Complex Boundary Behavior Author: Gong, Hongfang; Li, Renfa; An, Jiyao; Xie, Guoqi Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 224-239. DOI: 10.1109/TR.2022.3160460 DOI |
8. | An Intelligent Resource Management Solution for Hospital Information System Based on Cloud Computing Platform Author: Gong, Siqian; Zhu, Xiaomin; Zhang, Runtong; Zhao, Hongmei; Guo, Chao Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 329-342. DOI: 10.1109/TR.2022.3161359 DOI |
9. | A Reliable Sample Selection Strategy for Weakly Supervised Visual Tracking Author: Liu, Shuai; Xu, Xiyu; Zhang, Yang; Muhammad, Khan; Fu, Weina Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 15-26. DOI: 10.1109/TR.2022.3162346 DOI |
10. | Sparse and Flexible Convex-Hull Representation for Machine Degradation Modeling Author: Yan, Tongtong; Wang, Yuting; Xia, Tangbin; Hou, Bingchang; Xi, Lifeng; Wang, Dong Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 27-36. DOI: 10.1109/TR.2022.3164976 DOI |
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