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Analysis of Resistive Open Defects in Drowsy SRAM Cells

A Nourivand, AJ Al-Khalili… - Journal of Electronic Testing, 2011 - Springer
Page 1. J Electron Test DOI 10.1007/s10836-011-5206-y Analysis of Resistive Open Defects
in Drowsy SRAM Cells Afshin Nourivand · Asim J. Al-Khalili · Yvon Savaria Received: 14 April
2010 / Accepted: 2 February 2011 © Springer Science+Business Media, LLC 2011 ...
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